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| 品牌 | SETH/賽思 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
冷熱沖擊熱應力復合試驗箱對不同電子構件，在實際使用環境中遭遇的溫度條件，改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。改變了傳統進行溫度循環、高低溫沖擊(兩箱)、高低溫+常溫沖擊(三箱)、應力篩選ESS，至少需要購買四臺設備的狀況。讓您擺脫以往需添購很多種設備才能完成的試驗，需耗費許多添購設備&占用空間的硬件成本， 一次解決您的需求，滿足不同產品不同試驗的多樣性與多變性，提高機臺使用的稼動率。并且不需再依不同待測品去耗費時間手動調整，我們的創新系統自動幫您搞定，慶聲秉持著符合規范的原則，結合貼心的創新功能與技術，期待您詳細了解。
冷熱沖擊熱應力復合試驗箱特點：
1、可執行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；
2、可執行慢速溫度循環[3～5℃/min]符合IEC60068-2、應力篩選ESS[5～15℃/min]符合JESD22、快速溫變[15～30℃/min](40℃/min)、冷熱沖擊四種不同設備的溫變試驗Laboratory Class；
3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求；
4、待測品自動負載調整免手動設定預冷預熱，可依據待測品負載量系統自動調整。
5、精靈快捷鍵 人性化快速進入選單高低溫常溫沖擊 ；
6、超低除霜次數 高低溫常溫沖擊(3 Zoon)100Cycle免除霜，縮短試驗時間與能耗。
7、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行；
9、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；
10、感測器放置測試區出（回）風口賽思設計符合實驗有效性；
11、機臺多處報警監測，配置無線遠程報警功能；
測試規范：
標準：滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。
產品&規范 | 廠商名稱 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環數 | 循環時間 | 備注 |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產品應力篩選 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10～12 | 3h20min | —— |
MIL-344A-4-16電子設備環境應力篩選 | 設備或系統 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | —— | —— |
MIL-2164A-19電子設備環境應力篩選方法 | —— | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | —— | 駐留時間為內部達到溫度10℃時 |
NABMAT-9492美軍制造篩選 | 設備或系統 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | —— | 駐留時間為內部達到溫度5℃時 |
GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南 | 組件 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | —— | 達到溫度穩定的時間 |
GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環境應力篩選指南 | 設備或系統 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | —— | 達到溫度穩定的時間 |
筆記本電腦 | 主板廠商 | 85℃ | -40℃ | 15℃/min | —— | —— | —— |
斜率可控范圍：
SR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min] | 30℃/min→ | 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗 |
28℃/min→ | LED汽車照明燈 | |
25℃/min→ | PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應 | |
24℃/min→ | 光纖連接頭 | |
20℃/min→ | IPC－9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命 | |
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17℃/min→ | MOTO | |
15℃/min→ | IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境) | |
11℃/min→ | 無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A | |
10℃/min→ | 通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試 | |
5℃/min→ | 錫須溫度循環試驗 | |
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技術規格：
型號 | SER-A | SER-B | SER-C | SER-D |
內箱尺寸 | 40×35×35 | 50×50×40 | 60×50×50 | 70×60×60 |
外箱尺寸 | 140×165×165 | 150×200×175 | 160×225×185 | 170×260×193 |
預冷、預熱范圍 | -00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃ | |||
應力沖擊范圍 | -10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃ | |||
時間設定范圍 | 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment | |||
分辨率 | 0.01℃/min | |||
溫度均勻度 | ±3.00℃以內（under℃3.00℃） | |||
溫度應力變化范圍 | +5℃～+30℃/min(+40℃) | |||
沖擊試驗溫度 | -65℃～+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃) | |||
三箱沖擊溫度范圍 | -55℃～+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃) | |||
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